試驗(yàn)結(jié)果的判別，測得的數(shù)值不得超過制造廠規(guī)定的數(shù)值。7P2t特性和過電流選擇性驗(yàn)證。試驗(yàn)方法，西安熔斷器制造廠提出的2t特性應(yīng)以分?jǐn)嗄芰υ囼?yàn)結(jié)果驗(yàn)證之，或基于測量值(考慮到使用條件)計(jì)算得出。

西安熔斷器驗(yàn)結(jié)果的判別，測得的熔斷t值不得超過制造廠規(guī)定的值或下續(xù)部分標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的值?；∏癙t值應(yīng)不小于制造廠規(guī)定的最小弧前I2t或弧前2t值應(yīng)處于表7中規(guī)定的極限范圍內(nèi)。

熔斷體在0.01s時(shí)一致性驗(yàn)證，西安熔斷器以試驗(yàn)得到的弧前P2t值和0.1s時(shí)弧前2t值確定是否符合的規(guī)定。對于同一熔斷體系列較小額定電流的熔斷體,12試驗(yàn)的弧前Pt值可按附錄B中的公式計(jì)算

過電流選擇性驗(yàn)證，用時(shí)間-電流特性和弧前及熔斷r2t值驗(yàn)證熔斷體的選擇性。注：在大多數(shù)情況下，“gG”和(或)“gM”熔斷器間的選擇性發(fā)生在弧前時(shí)間大于0.01s的預(yù)期電流值上。

規(guī)定的弧前P2t值，可認(rèn)為當(dāng)弧前時(shí)間大于0.01s時(shí)額定電流之比為1.6:1的熔斷器間的選擇性可得到保證。

外殼防護(hù)等級驗(yàn)證，若西安熔斷器裝在外殼中，則規(guī)定于5.1.3的外殼防護(hù)等級應(yīng)按GB4208規(guī)定的條件進(jìn)行驗(yàn)證。耐熱性驗(yàn)證，若下續(xù)部分標(biāo)準(zhǔn)未另作規(guī)定，耐熱性應(yīng)由所有的熔斷試驗(yàn)的結(jié)果來判定。特別是按8.3~8.5和8.10的試驗(yàn)結(jié)果來判定。

觸頭不變壞驗(yàn)證，借助于代表嚴(yán)酷使用條件的試驗(yàn)，來驗(yàn)證長期運(yùn)行中不受擾動的觸頭性能不變壞。